NTSC-IR  > 时间频率测量与控制研究室
机载计算机BIT设计技术及策略研究
田心宇; 张小林; 吴海涛; 姚英
2011-09-25
发表期刊计算机测量与控制
ISSN1671-4598
卷号v.19;No.156期号:09页码:2064-2066
摘要机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT算法,可以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的,但高的虚警率是阻碍其广泛应用的一个重要原因;在对机载计算机BIT虚警原因进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT设计策略,并给出了算法流程图;提出了数字I/0通道、A/D、D/A通道、串行接口等关键部分的故障检测解决方案,经过实践证明该策略的测试覆盖率达90%以上,降低虚警率约35%,明显提高了机载计算机的可靠性及可维护性。
部门归属时间频率测量与控制研究室
关键词Bit 机载计算机 可靠性 可维护性
资助者国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010)
语种中文
资助者国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010) ; 国家自然科学基金资助(60134010)
文献类型期刊论文
条目标识符http://210.72.145.45/handle/361003/2448
专题时间频率测量与控制研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
田心宇,张小林,吴海涛,等. 机载计算机BIT设计技术及策略研究[J]. 计算机测量与控制,2011,v.19;No.156(09):2064-2066.
APA 田心宇,张小林,吴海涛,&姚英.(2011).机载计算机BIT设计技术及策略研究.计算机测量与控制,v.19;No.156(09),2064-2066.
MLA 田心宇,et al."机载计算机BIT设计技术及策略研究".计算机测量与控制 v.19;No.156.09(2011):2064-2066.
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